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扫描电子显微分析

  利用扫描电子显微镜的景深大、分辨率高等特点来分析研究物体的组织形貌、结构特征,尤其适合于凹凸不平的断口形貌观察。配合附带的X射线能谱分析装置,可在观察形貌的同时,进行微区成分定性分析。